Omni 高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量，是一款功能強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

Brookhaven公司應(yīng)用光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了結(jié)合，推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS（相位分析光散射）技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn)，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性，實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中，既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)，又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限，最高可達(dá)40%wt；硬件PALS技術(shù)（與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比，靈敏度可提高約1000倍）的應(yīng)用，解決了長(zhǎng)期以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下（電泳遷移率比通常水相條件下低10－1000倍，傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量）的樣品進(jìn)行分析的難題。

主要特點(diǎn)：

1、高靈敏性，粒度測(cè)量范圍：0.3nm~15μm；

2、三檢測(cè)角度設(shè)計(jì)，測(cè)量角度：15°、90°和173°；

3、硬件PALS技術(shù)，靈敏度高約1000倍，適用于高鹽濃度、有機(jī)溶劑、油相體系;

4、濃度范圍：0.1ppm至40%w/v;

5、可作為在線檢測(cè)器與GPC/SEC連接，并通過(guò)SLS、DLS、光強(qiáng)和粒徑監(jiān)測(cè)聚集過(guò)程;

6、綜合多種粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度測(cè)量軟件;

7、強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析功能，可自動(dòng)研究粒度隨時(shí)間、溫度(蛋白熔點(diǎn))以及其他參數(shù)變化的趨勢(shì)分析。

典型應(yīng)用：

1、蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

2、脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

3、多糖、藥物制備

4、納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

5、油包水、水包油體系

6、涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

7、食品、化妝品配方

8、陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

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